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PicoFemto掃描電鏡原位高溫拉伸臺集成了力學拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實現(xiàn)在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時進行拉伸實驗。本產(chǎn)品采用新一代的高溫拉伸方案，加熱臺直接貼緊樣品，保證了溫度的準確度和穩(wěn)定性。

掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統(tǒng)將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實驗樣品原位加熱。

PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統(tǒng)采用全新的O圈輔助密封設(shè)計，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題。

PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計，更易封裝液體。

PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。