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Sensofar白光干涉儀:高精度(亞納米)測量

產(chǎn)品簡介

Sensofar白光干涉儀:高精度(亞納米)測量Sensofar 的四合一測量技術(shù)堪稱 S neox 的一大核心亮點。在其傳感器頭中,巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面疊加和膜厚測量等多種先進測量技術(shù)。只需輕松點擊一次,系統(tǒng)便能依據(jù)當前測量任務的具體需求,自動智能地切換到最為適配的最佳技術(shù)。

產(chǎn)品型號:
更新時間:2025-07-11
廠商性質(zhì):代理商
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Sensofar白光干涉儀:高精度(亞納米)測量

Sensofar白光干涉儀:高精度(亞納米)測量

Sensofar S neox三維共焦白光干涉光學輪廓儀:高精度表面測量選

引言

在現(xiàn)代工業(yè)制造、科研實驗和質(zhì)量控制領(lǐng)域,表面形貌的精確測量至關(guān)重要。無論是半導體、光學元件、精密加工,還是生物醫(yī)學材料,都需要高分辨率、非接觸式的表面測量技術(shù)。Sensofar S neox三維共焦白光干涉光學輪廓儀憑借其的測量精度、靈活的操作方式以及多技術(shù)融合的優(yōu)勢,成為表面形貌分析領(lǐng)域的設備。本文將詳細介紹S neox的核心技術(shù)、應用場景及其在行業(yè)中的地位

1. 共焦與白光干涉技術(shù)的結(jié)合

S neox采用共焦顯微鏡(Confocal Microscopy)和白光干涉(Vertical Scanning Interferometry, VSI)雙模式測量技術(shù),可根據(jù)不同樣品特性自動切換或組合使用,實現(xiàn)納米級分辨率的高精度測量。

共焦模式適用于高陡坡、不透明或高反射率樣品,能夠清晰捕捉復雜結(jié)構(gòu)的表面細節(jié)。

白光干涉模式則擅長測量光滑表面,提供亞納米級縱向分辨率,適用于光學薄膜、半導體晶圓等超精密檢測。

2. 智能光學切換系統(tǒng)(Smart Technology Switching)

S neox搭載智能光學切換系統(tǒng),可根據(jù)樣品特性自動選擇最佳測量模式,無需人工干預,大幅提升檢測效率。例如:

對粗糙表面(如金屬加工件)采用共焦模式;

對光滑表面(如硅片或光學鏡片)采用白光干涉模式;

對復雜結(jié)構(gòu)(如MEMS器件)則結(jié)合兩種技術(shù),確保數(shù)據(jù)完整性。

3. 超高分辨率與快速掃描

橫向分辨率可達0.5µm,縱向分辨率優(yōu)于0.1nm,滿足最嚴苛的測量需求。

高速掃描技術(shù)可在數(shù)秒內(nèi)完成大面積測量,顯著提升檢測效率,適用于批量生產(chǎn)環(huán)境。

4. 先進的3D分析與軟件支持

S neox配備SensoMAP高級分析軟件,支持:

3D形貌重建(粗糙度、臺階高度、體積分析等);

自動缺陷檢測(劃痕、顆粒污染、薄膜厚度不均等);

多參數(shù)統(tǒng)計(Sa、Sq、Sz等ISO標準參數(shù)),并生成專業(yè)報告。

二、Sensofar S neox的典型應用領(lǐng)域

Sensofar白光干涉儀:高精度(亞納米)測量

1. 半導體與微電子制造

在半導體行業(yè),晶圓表面的平整度、薄膜厚度和刻蝕質(zhì)量直接影響芯片性能。S neox可精確測量:

晶圓表面粗糙度(Ra < 0.1nm);

光刻膠厚度(精度達納米級);

MEMS器件形貌(如微機械結(jié)構(gòu)的側(cè)壁角度、深度等)。

2. 光學元件檢測

高精度光學元件(如透鏡、反射鏡、AR/VR鏡片)對表面質(zhì)量要求。S neox可檢測:

表面瑕疵(劃痕、凹坑、污染);

薄膜均勻性(如抗反射鍍膜厚度);

面形誤差(PV值、RMS值)。

3. 精密加工與增材制造

在金屬加工、3D打印等領(lǐng)域,S neox可快速評估:

加工表面粗糙度(Ra、Rz);

激光微結(jié)構(gòu)形貌(如微孔、微槽的深度和寬度);

3D打印層厚一致性(確保成型精度)。

4. 生物醫(yī)學與材料科學

生物材料表面(如人工關(guān)節(jié)、牙科植入物的粗糙度分析);

納米涂層(如藥物緩釋薄膜的厚度測量);

細胞培養(yǎng)基底(表面形貌對細胞生長的影響研究)。

Sensofar白光干涉儀:高精度(亞納米)測量

三、為何選擇Sensofar S neox?

多技術(shù)融合——共焦+干涉+聚焦成像,一機多用,適應各類樣品。

超高精度——亞納米級分辨率,滿足最嚴苛的工業(yè)標準。

高效自動化——智能模式切換,減少人工干預,提升檢測效率。

廣泛兼容性——支持從微米級到厘米級樣品的測量,適用于科研與生產(chǎn)。

品牌——Sensofar作為光學輪廓儀領(lǐng)域的,技術(shù)成熟,服務完善。

Sensofar白光干涉儀:高精度(亞納米)測量

四、結(jié)語

在追求精密的現(xiàn)代工業(yè)與科研中,Sensofar S neox三維共焦白光干涉光學輪廓儀憑借其創(chuàng)新的多模式測量技術(shù)、分辨率以及強大的分析能力,成為表面形貌檢測的黃金標準。無論是半導體制造、光學元件生產(chǎn),還是生物材料研究,S neox都能提供可靠的數(shù)據(jù)支持,助力企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量、加速研發(fā)進程。

選擇Sensofar S neox,就是選擇高精度、高效率與高可靠性的表面測量解決方案!

如需了解更多技術(shù)細節(jié)或申請樣機演示,請聯(lián)系Sensofar授權(quán)代理商。

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