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三維光學輪廓儀
Sensofar
S neox白光干涉儀sensofar共聚焦模式深度解析
白光干涉儀sensofar共聚焦模式深度解析,的四合一測量技術(shù)堪稱 S neox 的一大核心亮點。在其傳感器頭中,巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面疊加和膜厚測量等多種*測量技術(shù)。只需輕松點擊一次,系統(tǒng)便能依據(jù)當前測量任務的具體需求,自動智能地切換到最為適配的優(yōu)良技術(shù)。
產(chǎn)品分類
一、技術(shù)原理:無運動部件掃描與納米級重復性算法
S neox的共聚焦模式采用Microdisplay技術(shù),基于FLCOS(鐵電液晶硅基)原理,摒棄機械振動掃描部件。通過微鏡陣列的電子化控制實現(xiàn)光路切換,在保持0.10μm橫向分辨率的同時,掃描速度提升至傳統(tǒng)激光共聚焦的3倍以上110。其核心突破在于:
動態(tài)焦點追蹤算法:通過實時校準物鏡焦平面曲率,使系統(tǒng)在70°光滑斜面或86°粗糙陡坡上仍保持Z軸重復性誤差<2nm(150倍物鏡下)27;
三波長交替照明:紅/綠/藍三色LED分時投射,結(jié)合像素級真彩色合成技術(shù),避免傳統(tǒng)插值算法的色彩失真,為生物材料、鍍層分析提供真實色彩信息18。
二、性能極限:從亞微米結(jié)構(gòu)到毫米級粗糙度
物鏡參數(shù)與測量能力對應表2:
物鏡倍數(shù)數(shù)值孔徑(NA)最大傾斜角(°)系統(tǒng)噪聲(nm)適用場景
5X0.159 (光滑)/17(粗糙)100大型工件宏觀缺陷篩查
50X0.8053/644MEMS器件微結(jié)構(gòu)測量
150X0.9564/862芯片光刻膠邊緣陡度分析
關(guān)鍵性能突破點:
極限傾角測量:在150倍鏡頭的0.95 NA支持下,對噴砂鈦合金等強散射表面實現(xiàn)86°傾角的穩(wěn)定成像(較傳統(tǒng)設備提升21%)79;
深度掃描范圍:配合Ai多焦面疊加技術(shù),單次掃描深度擴展至8mm,解決模具咬合面、鑄造氣孔等毫米級深槽測量難題9;
振動環(huán)境適應性:內(nèi)置實時環(huán)境補償算法(REC),在車間振動>100nm條件下仍維持納米級重復性,無需光學隔振平臺49。
三、應用場景:從半導體到生物醫(yī)療的全域覆蓋
半導體晶圓缺陷檢測
對5nm線寬的光刻膠結(jié)構(gòu),150X物鏡可清晰捕捉側(cè)壁粗糙度(Sa<0.8nm),識別0.15μm的殘留圖形缺陷,較SEM檢測效率提升5倍且無需真空環(huán)境10。
植入醫(yī)療器械表面分析
鈦合金骨釘在生理鹽水環(huán)境中掃描時,水浸物鏡配合共聚焦模式量化骨整合微孔結(jié)構(gòu)的真實三維形貌(Sa=3.2±0.7μm),揭示干燥測量導致的3.2μm形變誤差36。
新能源電池極片質(zhì)檢
對涂布厚度10μm的電極片,50X物鏡實現(xiàn)30片/分鐘的高速檢測,檢出0.2μm涂層不均缺陷,年節(jié)省探針刮傷導致的報廢成本超¥280萬49。
四、創(chuàng)新突破:傳統(tǒng)激光共聚焦的五大優(yōu)勢
指標傳統(tǒng)激光共聚焦S neox共聚焦模式提升價值
掃描速度2-5 fps180 fps高通量在線檢測可行性提升9倍 4
光源壽命8,000小時50,000小時設備全周期維護成本降低83% 1
垂直掃描深度≤0.5mm8mm(Ai模式協(xié)同)毫米級深孔/粗糙面測量成為可能 9
色彩還原技術(shù)單色/偽彩色真彩色三波長合成生物組織活性狀態(tài)真實呈現(xiàn) 8
環(huán)境抗干擾性需光學平臺車間環(huán)境直接部署產(chǎn)線嵌入式檢測成本節(jié)省¥50萬/臺 4
五、智能操作體驗:從新手到專家的無縫進階
SensoSCAN軟件系統(tǒng)通過三層架構(gòu)簡化操作:
導航預覽層:自動生成樣品全景圖,點擊目標區(qū)域即觸發(fā)智能參數(shù)推薦(物鏡/模式/掃描深度)10;
編程執(zhí)行層:拖拽式創(chuàng)建檢測流程,支持條形碼綁定、多位置序列測量、Pass-Fail閾值設定3;
AI分析層:集成200+材料數(shù)據(jù)庫,對微裂紋、孔隙率等特征自動匹配ISO 25178參數(shù)并生成合規(guī)報告9。
某汽車齒輪廠實測顯示:操作員經(jīng)2小時培訓即可獨立完成模具側(cè)壁86°傾角區(qū)域的粗糙度檢測,從放置樣品到生成Sa/Sk報告僅需42秒4。
六、典型案例:解決航空發(fā)動機葉片的測量困局
某航發(fā)制造商面臨噴砂鈦合金葉片質(zhì)檢效率瓶頸:
傳統(tǒng)方案:接觸式輪廓儀單葉片檢測耗時22分鐘,且探針無法觸及60°以上葉背區(qū)域;
S neox方案:
采用20X物鏡+Ai多焦面疊加模式,單次掃描覆蓋15×15mm區(qū)域
高速拼接算法實現(xiàn)42秒完成全葉片掃描4
共聚焦數(shù)據(jù)揭示葉根處Ra=8.3μm的異常磨損帶
成效:年節(jié)省檢測工時1,700小時,葉片壽命預測準確率提升90%9。
共聚焦模式的本質(zhì)是“光學探針":它用無接觸的光斑替代物理探針,以納米級精度“觸摸"從超光滑晶圓到骨科植入物的萬千表面。當S neox的150倍物鏡凝視芯片邊緣時,每一束反射光都在重構(gòu)微觀世界的真實地貌——這里沒有推測,只有被量化的真相。
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